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Impedanz-Analyzer, LCR-Messgeräte und DC-Bias-Modelle, Ohmmeter

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Impedanz-Analyzer
6500B Serie

Impedanz-Analyzer

Hochpräzise Analyzer mit benutzerfreundlicher grafischer Oberfläche, hochauflösendem Farbdisplay, 0,05% Grundgenauigkeit, Mindestfrequenz 20Hz und maximaler Frequenz bis zu 120MHz.

Hochfrequenz-LCR-Messgerät
6500P Serie

Hochfrequenz-LCR-Messgerät

Die 6500P-Serie LCR-Messgeräte zeichnen sich durch erweiterte Testfrequenzen, hohe Genauigkeit und ein großes, hochauflösendes Farbdisplay aus.

Hochfrequenz-DC-Bias
6565 Serie

Hochfrequenz-DC-Bias

Die 6565 DC-Bias-Einheiten werden zur Bewertung von Komponenten bei Strömen bis zu 80A verwendet und sind mit den Wayne Kerr 6500B- und 6500P-Modellen von Präzisions-Analyzern kompatibel.

Präzisions-Komponenten-Analyzer
6400B Serie

Präzisions-Komponenten-Analyzer

Die 6400-Serie bietet gründliche und genaue Tests für jede passive Komponente mit marktführender Genauigkeit.

Hochstrom-Testsystem LCR-Messgerät
5400L Serie

Hochstrom-Testsystem LCR-Messgerät

Hochstrom-Induktivitätstestsysteme mit externem DC-Bias bis zu 300A, 0,05% Grundgenauigkeit, Frequenzbereich von 10Hz bis 10MHz und die Fähigkeit für gleichzeitige Multiparameter-Messungen.

LCR-Messgeräte
4300 Serie

LCR-Messgeräte

Benutzerfreundliche LCR-Messgeräte mit umfangreichen Funktionen für genaue, schnelle Messungen von 20Hz bis 1MHz, ideal für verschiedene Test- und Produktionsumgebungen.

DC-Bias-Stromeinheit
3265B Serie

DC-Bias-Stromeinheit

Ermöglicht die Bewertung von Hochstrom-Komponenten mit dem Wayne Kerr 3255B Induktivitäts-Analyzer oder 3260B Präzisions-Magnetik-Analyzer und bietet Bias-Stromeinstellungen von 25mA bis 25A in 25mA-Schritten.

Präzisions-Magnetik-Analyzer
3260B Serie

Präzisions-Magnetik-Analyzer

Bietet umfassende Magnetkomponenten-Analyse bis zu 3MHz, einschließlich echter 4-Leiter-Primär-zu-Sekundär-Parameter, über 8 Frontpanel-BNCs.

Induktivitäts-Analyzer
3255B Serie

Induktivitäts-Analyzer

Vielseitige und genaue Induktivitäts-Analyzer, entwickelt für unkomplizierte Gerätecharakterisierung.